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DigiTimes原文发布 09-03 17:35Radar 收录 09-03 18:21查看原文 ↗

CHPT 展示从晶圆到系统级测试方案

CHPT spans wafer to system-level testing
中文摘要

中华精密测试科技在2026年台湾半导体展上展示了面向AI芯片和高性能计算的测试接口解决方案,包括AI探针卡、存储探针卡等,覆盖从晶圆到系统级测试。

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